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TOF MS简介
质谱测定(MS)是运用仪功一种凭证份子量对于样品中已经知/未知份子妨碍量化的合成技术。先将样品中的低噪元素以及/或者份子电离成带或者不带碎片的气态离子,而后在品质合成仪中将其分说,声高速这样就能经由质谱中的增强质谱质荷比(m/z ,或者脉冲的飞翔位置)及相对于品貌(或者脉冲的幅度)来表征元素以及/或者份子。
质谱仪有三个主要组件 :用于从被测样品中产去世气态离子的光阴离子源,凭证m/z比分说离子的运用仪功品质合成仪,以及用于检测离子以及每一种离子相对于品貌的低噪离子检测器。检测器输入经由调节以及数字化处置后 ,声高速发生质谱 。增强质谱当初有多种品质合成器 ,飞翔它们接管残缺差距的光阴策略来分说差距m/z值的离子1 。图1展现了四极杆以及TOF MS的运用仪功主要模块。
在TOF MS中 ,低噪短时电离使命组成的声高速离子经由静电场减速,因此差距m/z的离子具备相同的动能,但速率差距。这些离子随后沿着无场漂移道路后退 ,并以差距的飞翔光阴抵达检测器——较轻的离子先于较重的离子抵达,如图2所示。在实际中,由于减速地域中初始空间扩散以及能量(或者速率)的差距 ,相同m/z的一组离子的飞翔光阴会扩散组成一个窄至多少百皮秒(ps)的脉冲 。每一个脉冲是对于应于多个自力离子抵达使命的信号之以及